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Produtos Walter Microscópio de zoom estéreo trinocular QZ-400, oculares wf10x, ampliação de 6.6x-50x, objetivo do zoom de 0,66x-5x, iluminação LED superior e inferior, estágio fixo, 110V

Produtos Walter Microscópio de zoom estéreo trinocular QZ-400, oculares wf10x, ampliação de 6.6x-50x, objetivo do zoom de 0,66x-5x,

€ 2.33
Figura do produto

O microscópio de zoom estéreo para inspeção e dissecção cria imagens tridimensionais dentro de uma faixa de ampliação contínua de 6,6x a 50x Configuração de visualização trinocular com uma cabeça binocular que possui um par de oculares oculares de alto campo de 10x para aliviar a tensão ocular e fornecer uma visão abrangente e uma porta trinocular que aceita um adaptador de câmera (vendido separadamente). O objetivo do zoom de 0,66 a 5x fornece baixa ampliação e maior distância focal para inspecionar amostras em larga escala. Iluminação LED superior e inferior com reostato e configuração de iluminação selecionável para exame claro e controle da luz. O estágio fixo com clipes protege os slides no lugar, e os botões de foco coaxial focam a velocidade e têm um controle de tensão para evitar a deriva do estágio. O microscópio de zoom estéreo trinocular QZ-400 trinocular QZ-400 Trinocular possui um par de oculares oculares de alto mar largo, uma porta trinocular, objetivo de zoom de 0,66 a 5x para ampliação contínua de 6,6x a 50x, iluminação superior e inferior selecionável, foco coaxial e A e A 50x estágio fixo com clipes. A cabeça de visualização trinocular tem uma cabeça binocular com um par de oculares com ajuste interpupilar, inclinação fixa para reduzir a tensão ocular e pescoço e capacidade de rotação de 360 ​​graus para fornecer uma visão mais abrangente e ativar o compartilhamento; e uma porta trinocular que aceita um adaptador de câmera (vendido separadamente). Economixos oculares altos facilitam a visualização para os espectadores usando óculos. O ajuste dióptrico acomoda diferenças individuais de resistência ocular. O objetivo do zoom fornece baixa ampliação e uma distância focal mais longa para inspecionar amostras em larga escala, ou amostras que requerem manipulação ou reparo prático, incluindo rochas, minerais, relógios ou placas de circuito.

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